1. Artemis

Πλοήγηση ανά Θέμα bias temperature instability

Μεταπήδηση σε: Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω
A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
ή εισάγετε τα πρώτα γράμματα:  
Εμφάνιση αποτελεσμάτων 1 έως 2 από 2
Ημερομηνία ΈκδοσηςΤίτλοςΣυγγραφέαςΕπιβλέπων Καθηγητής
22-Ιου-2017Estimating The Failure Probability Of Finfet-based Sram Cells Under Time-zero And Time-dependent VariabilityΕλένη ΜαραγκουδάκηΣούντρης Δημήτριος
8-Νοε-2011Software Simulation Of Temperature Distribution & Device Degradation Of Integrated CircuitsΔημήτριος ΡοδόπουλοςΣούντρης Δημήτριος
Εμφάνιση αποτελεσμάτων 1 έως 2 από 2