Παρακαλώ χρησιμοποιήστε αυτό το αναγνωριστικό για να παραπέμψετε ή να δημιουργήσετε σύνδεσμο προς αυτό το τεκμήριο: http://artemis.cslab.ece.ntua.gr:8080/jspui/handle/123456789/13377
Πλήρες αρχείο μεταδεδομένων
Πεδίο DC ΤιμήΓλώσσα
dc.contributor.authorΓεωργίου Ευθύμιος
dc.date.accessioned2018-07-23T09:07:20Z-
dc.date.available2018-07-23T09:07:20Z-
dc.date.issued2017-3-17
dc.date.submitted2017-3-9
dc.identifier.urihttp://artemis-new.cslab.ece.ntua.gr:8080/jspui/handle/123456789/13377-
dc.description.abstractΤα σύνθετα υλικά βρίσκονται τελευταία στο επίκεντρο του ενδιαφέροντος, γιατί υπάρχει μεγάλη ανάγκη για καινούρια υλικά με άριστες ιδιότητες. Ιδιαίτερα τα υλικά που έχουν μία τουλάχιστον διάσταση στην νανοκλίμακα εμφανίζουν διαφορετικές ιδιότητες από τα αντίστοιχα υλικά σε μεγαλύτερη κλίμακα. Το οξείδιο του ψευδαργύρου αποτελεί παράδειγμα ενός τέτοιου υλικού. Το οξείδιο του ψευδαργύρου είναι ένας σύνθετος ημιαγωγός με άμεσο ενεργειακό διάκενο (3,37 eV) και μεγάλη ενέργεια σύνδεσης εξιτονίων (60 meV).Σκοπός της παρούσας διπλωματικής εργασίας είναι η παραγωγή και ο χαρακτηρισμός σύνθετων μονωτικών υλικών εποξειδικής ρητίνης με πληρωτικό μέσο νανοδομές (νανολουλούδια) οξειδίου του ψευδαργύρου. Για το λόγο αυτό, κατασκευάστηκαν δοκίμια ρητίνης με διαφορετικές περιεκτικότητες σε οξείδιο του ψευδαργύρου για να συγκριθούν με δοκίμια σκέτης ρητίνης. Στη συνέχεια, πραγματοποιήθηκε διηλεκτρικός και οπτοηλεκτρονικός χαρακτηρισμός των δοκιμίων. Επιπλέον, ερευνήθηκε τεχνητά σε τρεις κύκλους η επίδραση της περιβαλλοντικής γήρανσης στις ιδιότητες των υλικών.Ο διηλεκτρικός χαρακτηρισμός αφορά τις υψηλές (τηλεπικοινωνιακές) συχνότητες (1 MHz - 1 GHz). Σε σχέση με τα δοκίμια σκέτης ρητίνης η διηλεκτρική σταθερά των δοκιμίων με 0,5% οξείδιο του ψευδαργύρου μειώνεται, ενώ η διηλεκτρική σταθερά των δοκιμίων με 2% οξείδιο του ψευδαργύρου αυξάνεται. Η εφαπτομένη απωλειών αυξάνεται με την αύξηση της περιεκτικότητας σε οξείδιο του ψευδαργύρου. Μετά τη γήρανση οι τιμές των δύο αυτών μεγεθών λαμβάνουν ικανοποιητικές τιμές.Ο οπτοηλεκτρονικός χαρακτηρισμός προσδιορίζει το ενεργειακό διάκενο των δοκιμίων, μέσω μετρήσεων διαπερατότητας και ανάκλασης της ηλεκτρομαγνητικής ακτινοβολίας. Το ενεργειακό διάκενο είναι περίπου στα 3,3 eV. Ακόμα, το οξείδιο του ψευδαργύρου μειώνει τη διαπερατότητα και αυξάνει την ανάκλαση, θωρακίζοντας τα υλικά από την υπεριώδη ακτινοβολία.
dc.languageGreek
dc.subjectσύνθετα υλικά
dc.subjectεποξειδική ρητίνη
dc.subjectοξείδιο του ψευδαργύρου
dc.subjectνανολουλούδια
dc.subjectδιηλεκτρική σταθερά
dc.subjectεφαπτομένη απωλειών
dc.subjectενεργειακό διάκενο
dc.subjectδιαπερατότητα
dc.subjectανάκλαση
dc.subjectπεριβαλλοντική γήρανση
dc.titleΠαραγωγή Και Χαρακτηρισμός Σύνθετων Μονωτικών Υλικών Εποξειδικής Ρητίνης - Νανοδομών Οξειδίου Του Ψευδαργύρου
dc.typeDiploma Thesis
dc.description.pages112
dc.contributor.supervisorΔέρβος Κωνσταντίνος
dc.departmentΤομέας Συστημάτων Μετάδοσης Πληροφορίας & Τεχνολογίας Υλικών
dc.organizationΕΜΠ, Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών & Μηχανικών Υπολογιστών
Εμφανίζεται στις συλλογές:Διπλωματικές Εργασίες - Theses

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο:
Αρχείο ΜέγεθοςΜορφότυπος 
DT2017-0035.pdf8.01 MBAdobe PDFΕμφάνιση/Άνοιγμα


Όλα τα τεκμήρια του δικτυακού τόπου προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.