Please use this identifier to cite or link to this item: http://artemis.cslab.ece.ntua.gr:8080/jspui/handle/123456789/14001
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorΔημητριος Κωνσταντινιδης
dc.date.accessioned2018-07-23T14:25:16Z-
dc.date.available2018-07-23T14:25:16Z-
dc.date.issued2004-4-1
dc.date.submitted2004-12-29
dc.identifier.urihttp://artemis-new.cslab.ece.ntua.gr:8080/jspui/handle/123456789/14001-
dc.description.abstractΗ εργασία αυτή εντάσσεται στην ερευνητική προσπάθεια που διεξάγεται στην περιοχή των Ηλεκτρομονωτικών Υλικών και αφορά την θεωρητική διεύρυνση της ακρίβειας των μετρήσεων της διηλεκτρικής αντοχής υλικών με τη χρήση κρουστικών τάσεων. Δεδομένου ότι τα φαινόμενα που μετρούνται, και ειδικά οι μερικές εκκενώσεις, εξελίσσονται σε πολύ μικρά χρονικά διαστήματα, της τάξης του μsec, η ακρίβεια των μετρήσεων αυτών παρουσιάζει πολύ μεγάλο ενδιαφέρον. την εργασία αυτή γίνεται μία θεωρητική διερεύνηση της ακρίβειας των μετρήσεων μέσω θεωρητικού μοντέλου. Χρησιμοποιώντας το μοντέλο αυτό θα προσπαθήσουμε να προσομοιώσουμε την εκδήλωση μιας μερικής εκκένωσης στο εσωτερικό του μονωτικού υλικού έτσι ώστε αργότερα από την κυκλωματική ανάλυση να προκύψει κατά πόσο η τιμή της μετρούμενης τάσης είναι ακριβής. Τέλος έχει ληφθεί υπόψη η αντίσταση εισόδου στο όργανο μέτρησης και η μεταβολή της χωρητικότητας του δοκιμίου σύμφωνα με το μοντέλο Gemmen-Philipoff όταν βρίσκονται σε εξέλιξη μερικές εκκενώσεις στο εσωτερικό του μονωτικού υλικού.
dc.languageGreek
dc.subjectμερικες εκκενωσεις
dc.subjectμονωτικα υλικα
dc.titleΕνα Θεωρητικο Μοντελο Για Την Προσομοιωση Των Μερικων Εκκενωσεων Σε Στερεα Μονωτικα Υλικα
dc.typeDiploma Thesis
dc.description.pages285
dc.contributor.supervisorΚαραγιαννόπουλος Κωνσταντίνος
dc.departmentΤομέας Ηλεκτρικών Βιομηχανικών Διατάξεων & Συστημάτων Αποφάσεων
dc.organizationΕΜΠ, Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών & Μηχανικών Υπολογιστών
Appears in Collections:Διπλωματικές Εργασίες - Theses

Files in This Item:
File SizeFormat 
DT2004-0035.doc1.79 MBMicrosoft WordView/Open


Items in Artemis are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.