Please use this identifier to cite or link to this item: http://artemis.cslab.ece.ntua.gr:8080/jspui/handle/123456789/17518
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorΧατζούδης, Κωνσταντίνος-
dc.date.accessioned2020-03-04T09:23:43Z-
dc.date.available2020-03-04T09:23:43Z-
dc.date.issued2020-01-22-
dc.identifier.urihttp://artemis.cslab.ece.ntua.gr:8080/jspui/handle/123456789/17518-
dc.description.abstractΤα υλικά αναφοράς που χρησιμοποιούνται για την διακρίβωση φασματοφωτομέτρων είναι πιστοποιημένα σε κάποια συγκεκριμένα μήκη κύματος με την ιχνηλασιμότητα της απορρόφησης τους να διασφαλίζεται από κάποιο εθνικό ινστιτούτο μετρολογίας μέσω του πιστοποιητικού διακρίβωσής τους. Τι συμβαίνει όμως σε περιπτώσεις όπου μας ενδιαφέρει η ακρίβεια μέτρησης σε κάποιο μήκος κύματος για το οποίο δε διατίθεται πιστοποιημένη τιμή; Η διακρίβωση των πιστοποιημένων υλικών αναφοράς σε περισσότερα μήκη κύματος δεν αποτελεί λύση, αφού για να καλυφθεί μόνο η περιοχή του ορατού φωτός με βήμα 1nm θα χρειαζόντουσαν τουλάχιστον 300 πιστοποιημένες τιμές και το κόστος θα ήταν τεράστιο. Παρουσιάζεται, λοιπόν, η ανάγκη να δοθεί μία μαθηματική λύση στο παραπάνω πρόβλημα. Μια τέτοια λύση αποπειράται να βρει αυτή η εργασία αλλά και να αξιολογήσει την αποτελεσματικότητα της. Πιο συγκεκριμένα, μέσω των διαθέσιμων πιστοποιημένων τιμών για τρία φίλτρα αναφοράς ουδέτερης πυκνότητας μετάλλου σε χαλαζία ονομαστικής διαπερατότητας 1%, 10% και 50% που μελετώνται, ενός φασματοφωτομέτρου μεταφοράς ιχνηλασιμότητας που βρίσκεται εγκατεστημένο στο ιδιωτικό διαπιστευμένο εργαστήριο διακριβώσεων της Total Q και ενός φασματόμετρου οπτικής ίνας υψηλής ακρίβειας που βρίσκεται εγκατεστημένο στο Εργαστήριο Φωτοτεχνίας της Σχολής Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών του Ε.Μ.Π. αναζητείται η απορρόφηση των φίλτρων στα μήκη κύματος ενδιάμεσα των πιστοποιημένων Τέλος, αναζητούνται όλες οι πηγές αβεβαιότητας μέτρησης που υπεισέρχονται για τις δύο μεθόδους μέτρησης που εφαρμόστηκαν και για κάθε ένα από τα τρία φίλτρα που μελετώνται και αξιολογούνται τα αποτελέσματα μέτρησης που ελήφθησαν λαμβάνοντας υπόψη και την αβεβαιότητα μέτρησης της κάθε μεθόδου.en_US
dc.languageelen_US
dc.subjectφασματοφωτομετρίαen_US
dc.subjectαπορρόφησηen_US
dc.subjectυλικά αναφοράςen_US
dc.subjectμετρολογίαen_US
dc.subjectδιακρίβωσηen_US
dc.subjectπολυωνυμική παλινδρόμησηen_US
dc.subjectδιακριτά σημεία διακρίβωσηςen_US
dc.titleΜεθοδολογία Απόδοσης Τιμής Απορρόφησης Ορατής και Υπεριώδους Ακτινοβολίας σε Πρότυπα Φίλτρα Αναφοράς Metal on Quartz με την Χρήση Διακριτών Σημείων Διακρίβωσηςen_US
dc.description.pages97en_US
dc.contributor.supervisorΤοπαλής Φραγκίσκοςen_US
dc.departmentΤομέας Ηλεκτρικής Ισχύοςen_US
Appears in Collections:Διπλωματικές Εργασίες - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Διπλωματική Κ. Χατζούδης.pdf3.48 MBAdobe PDFView/Open


Items in Artemis are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.